射頻抗擾度測(cè)試簡(jiǎn)介 
      射頻（RF）頻譜變得越來(lái)越擁擠，因?yàn)轭A(yù)期更多的電子設(shè)備與多種無(wú)線電發(fā)射器一起工作或共存，現(xiàn)在，特別是在城市地區(qū)的許多地方都有許多固定發(fā)射機(jī)，這些發(fā)射機(jī)有助于該地區(qū)的現(xiàn)場(chǎng)優(yōu)勢(shì)。

產(chǎn)品制造商不太可能知道或控制其產(chǎn)品的實(shí)際使用位置，并且應(yīng)該期望產(chǎn)品在他們合理可能遇到的任何環(huán)境中正常工作。

EMC指令要求所有投放市場(chǎng)的產(chǎn)品必須具有足夠的RF抗擾度。但是，為了區(qū)別于競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手，制造商應(yīng)該采用這一標(biāo)準(zhǔn)來(lái)提高產(chǎn)品質(zhì)量，無(wú)論該指令是否得到執(zhí)行。

射頻抗擾度測(cè)試的目的是使產(chǎn)品受到受控的射頻應(yīng)力，該應(yīng)力代表在其操作環(huán)境中可能遇到的應(yīng)力水平，其頻率范圍主要取決于實(shí)際問題和現(xiàn)實(shí)問題的經(jīng)驗(yàn)。 。測(cè)試方法分為通過傳導(dǎo)耦合施加應(yīng)力和通過輻射場(chǎng)耦合。

怎么進(jìn)行射頻抗擾度測(cè)試
1.電纜測(cè)試是檢查RF敏感性的重要方法，IEC 61000-4-6規(guī)定了測(cè)試方法。用于測(cè)試的頻率為150kHz至80MHz，任何電纜RF注入測(cè)試方法都應(yīng)該要求定義遠(yuǎn)離EUT的電纜末端的共模阻抗。

2.每種類型的電纜應(yīng)在其遠(yuǎn)端具有共模解耦網(wǎng)絡(luò)，以確保相對(duì)于接地參考平面（GRP）的阻抗，并使任何輔助設(shè)備與電纜上的RF電流的影響隔離。有幾種方法可以將RF耦合到測(cè)試設(shè)備中。

他們是：
a）耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)（CDN）

b）EM鉗位 - 由兩個(gè)不同等級(jí)的分裂鐵氧體環(huán)組成，可以?shī)A在待測(cè)電纜上，因此無(wú)創(chuàng)，可用于任何類型的電纜。

c）電流注入探頭 - 電流探頭是夾式電流互感器，可應(yīng)用于任何電纜，它是屏蔽的，因此僅應(yīng)用電感耦合，而不需要測(cè)試信號(hào)的電容耦合。

測(cè)試應(yīng)該很好地解耦，以防止任何干擾影響其他設(shè)備，這些可以通過主電源或直接耦合到引線耦合出設(shè)置。

      盡管CDN將降低其AE端口的噪聲和電纜阻抗的變化，但它并不能完美地實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，并且建議在測(cè)試環(huán)境的主電源處安裝RF濾波器。其他電纜應(yīng)保持在測(cè)試環(huán)境的本地，或者如果它們離開則過濾到地面參考平面。

環(huán)境輻射信號(hào)也應(yīng)該衰減，通常在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，房間的地板形成地面參考平面。

輻射射頻抗擾度測(cè)試
1.使用的輻射RF抗擾度標(biāo)準(zhǔn)是IEC 61000-4-3，這需要使用預(yù)校準(zhǔn)場(chǎng)的屏蔽消聲外殼中的天線產(chǎn)生的輻射射頻場(chǎng)，掃描范圍為80MHz至1000MHz，步長(zhǎng)不超過基波的1％，停留時(shí)間足以使被測(cè)設(shè)備響應(yīng)。

2.被測(cè)設(shè)備放置在0.8米高的木桌上（用于桌面設(shè)備），其正面與先前校準(zhǔn)的均勻場(chǎng)區(qū)域在同一平面上。

3.天線位置和均勻區(qū)域都相對(duì)于腔室固定。該標(biāo)準(zhǔn)要求至少1米的連接電纜長(zhǎng)度暴露在現(xiàn)場(chǎng)，并建議使用鐵氧體扼流圈來(lái)分離較長(zhǎng)的電纜。通常不能電纜布局，但是至少一些長(zhǎng)度應(yīng)該與天線的一個(gè)極化處于同一平面中。

4.被測(cè)設(shè)備在工作臺(tái)上旋轉(zhuǎn)，使其四個(gè)側(cè)面中的每一個(gè)，如果可以任何方向使用，則頂部和底部依次面向天線，并與均勻區(qū)域共面。對(duì)于每個(gè)方向，在頻率范圍內(nèi)執(zhí)行兩次掃描，每個(gè)天線極化一次。

5.如果頻率以1％的步長(zhǎng)從80到1000MHz掃描，每步的常規(guī)小停留時(shí)間為3秒，每次掃描大約需要15分鐘，整個(gè)測(cè)試需要花費(fèi)兩個(gè)多小時(shí)。